晶體匹配電路參數(shù)測試
來源:http://www.omrb.cn 作者:泰河電子工程部 2019年08月15
在晶振電路的研究中,晶體單元安裝在客戶的電路板上,并確認(rèn)與晶體元器件相匹配,并提出了適當(dāng)?shù)臈l件。如果在匹配過程中出現(xiàn)不適合的可能會導(dǎo)致市場出現(xiàn)意外問題,如非振蕩,頻率偏差和啟動失敗,為了避免這些麻煩又耽誤事情的問題出現(xiàn)也為了可以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的振蕩,我司可以提出最佳匹配的系統(tǒng)。針對目前進(jìn)行的電路調(diào)查,已有超過70%的案例提出了改變。如果有必要,我們將建議更改晶體單元規(guī)格,要使用IC和電路常數(shù)、
在檢查振蕩器電路和晶體單元之間的匹配時(shí),要了解到什么樣的狀態(tài)是較為適當(dāng)?shù)?,可以從以下的觀點(diǎn)來評估。
1.水晶振蕩子是否穩(wěn)定的振蕩
2.頻率是否準(zhǔn)確
3.是否發(fā)生異常
(例如:頻率比預(yù)期偏差,在常溫下以穩(wěn)定的頻率進(jìn)行振蕩,但頻率在低溫下或高溫下跳躍)
在上述匹配評估中使用以下三個(gè)指標(biāo)
1.水晶振蕩子是否穩(wěn)定的振蕩⇒負(fù)性電阻
2.頻率是否準(zhǔn)確⇒振蕩頻率的差異
3.是否發(fā)生異常⇒驅(qū)動電平
使用這些指標(biāo)進(jìn)行評估,并在最佳振蕩條件下試驗(yàn)電路常數(shù)(電容和電阻值)。
在檢查振蕩器電路和晶體單元之間的匹配時(shí),要了解到什么樣的狀態(tài)是較為適當(dāng)?shù)?,可以從以下的觀點(diǎn)來評估。
1.水晶振蕩子是否穩(wěn)定的振蕩
2.頻率是否準(zhǔn)確
3.是否發(fā)生異常
(例如:頻率比預(yù)期偏差,在常溫下以穩(wěn)定的頻率進(jìn)行振蕩,但頻率在低溫下或高溫下跳躍)
在上述匹配評估中使用以下三個(gè)指標(biāo)
1.水晶振蕩子是否穩(wěn)定的振蕩⇒負(fù)性電阻
2.頻率是否準(zhǔn)確⇒振蕩頻率的差異
3.是否發(fā)生異常⇒驅(qū)動電平
使用這些指標(biāo)進(jìn)行評估,并在最佳振蕩條件下試驗(yàn)電路常數(shù)(電容和電阻值)。
術(shù)語解說
負(fù)性電阻-R:通過消除晶體單元的電阻R來振蕩電路的能力
振蕩頻率-F:取決于負(fù)載電容的特性CL
驅(qū)動電平DL:晶體單元的電阻R耗電量
負(fù)性電阻-R:通過消除晶體單元的電阻R來振蕩電路的能力
振蕩頻率-F:取決于負(fù)載電容的特性CL
驅(qū)動電平DL:晶體單元的電阻R耗電量
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