晶振是一種頻率元件,而決定晶振是否能用的因素取決于晶振的頻率和精度,其次就是負(fù)載電容,對(duì)于晶振的頻率.我們通常知道測(cè)試的儀器有示波器和頻率計(jì),大家是否經(jīng)常遇到有些客戶打電話來投訴,晶振在示波器上測(cè)試出來的頻率并不準(zhǔn)確,準(zhǔn)確來說,任何一種示波器測(cè)量頻率元件都是有一點(diǎn)偏差的,示波器是一種用途十分廣泛的電子測(cè)量?jī)x器,它能把肉眼看不見的電信號(hào)變換成看得見的圖像,便于人們研究各種電現(xiàn)象的變化過程,而普通示波器主要是用于故障檢測(cè)的, 精度要求不高. 帶有 "數(shù)字讀出" 功能的示波器可能好一點(diǎn). 普通示波器的掃描精度大概在百分之五左右，換算成頻率不會(huì)超過這個(gè)精度。有些數(shù)字讀出示波器實(shí)際上是把觸發(fā)放大器整形之后的信號(hào)分出一路供其中的頻率計(jì)電路再在屏幕上顯示出來，有一些是用外帶的頻率計(jì)顯示。從準(zhǔn)確度上講，嚴(yán)格地講，示波器測(cè)出來的波形都是有失真的，不是實(shí)際值。當(dāng)然對(duì)于晶振來說，不管是否加電容，以及加多大電容，影響的是波形的形狀質(zhì)量，不會(huì)影響頻率大小的。
  影響示波器測(cè)量不準(zhǔn)確的因素有很多
  1，DC增益誤差、系統(tǒng)非線性度、偏置電路誤差、頻率響應(yīng)曲線、量化誤差
  2，探頭及測(cè)試環(huán)境的原因，如探頭的地線影響(地線長(zhǎng)短、地環(huán)路的位置、形狀等)、探頭的負(fù)載效應(yīng)在不同頻率下的值不恒定、 接近探頭前端的寄生參數(shù)、 探頭擺放的位置、探頭與探頭之間的影響
  3，采樣率、帶寬、幅值誤差和垂直噪聲、孔徑誤差、觸發(fā)抖動(dòng)、插值誤差及時(shí)基穩(wěn)定性等

  在示波器測(cè)量中出現(xiàn)準(zhǔn)確度不夠的問題比較常見，特別是在測(cè)量微弱小信號(hào)、相位噪聲、小電壓紋波、大電壓中的小電壓信號(hào)等更容易出現(xiàn)明顯的誤差。因此，工程師在測(cè)量前充分了解影響示波器測(cè)量準(zhǔn)確度的因素、掌握其使用技巧就顯得尤為重要。當(dāng)然，提高測(cè)量準(zhǔn)確度最有效的解決辦法是增加ADC位數(shù).下面是幾個(gè)比較實(shí)用的提高示波器測(cè)量準(zhǔn)確度的原則和技巧。
1，時(shí)刻警惕采樣率，要過采樣而不要欠采樣。比如測(cè)量波形頻率時(shí)如果采樣率太低會(huì)出現(xiàn)混疊現(xiàn)象，那么測(cè)量的結(jié)果就是錯(cuò)誤的。
2，在現(xiàn)有條件的基礎(chǔ)上最小化量化誤差，即盡量讓測(cè)量波形占滿柵格，充分利用ADC的范圍。
3，利用FIR濾波器也能減小噪聲。不需要捕獲多次的波形進(jìn)行平均求值，單次捕獲就可以，因此可用于無法穩(wěn)定觸發(fā)的非周期重復(fù)性波形的測(cè)量情況。
4，利用平均算法和濾波功能。對(duì)于周期重復(fù)性的信號(hào)，穩(wěn)定觸發(fā)后利用多次測(cè)量求平均值減小信號(hào)噪聲所帶來的誤差，平均算法同樣會(huì)減弱由示波器模擬前端和探頭引入的噪聲影響
5， 利用測(cè)量統(tǒng)計(jì)功能。因?yàn)椴ㄐ蔚男螤钍遣环€(wěn)定的，因此示波器每次捕獲到的波形測(cè)量結(jié)果不一樣。利用測(cè)量統(tǒng)計(jì)可以發(fā)現(xiàn)電路性能最壞的情況和一些間歇性信號(hào)的參數(shù)值，這是判斷關(guān)鍵信號(hào)特征是否在規(guī)格范圍之內(nèi)的一種好方法。
6，減小探頭對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確度的影響

  在這里告訴大家一個(gè)小技巧,如何在沒有示波器的情況下測(cè)量晶振是起振的

    用萬用表測(cè)量晶振兩個(gè)引腳電壓是否是芯片工作電壓的一半，比如工作電壓是5V則是否是2.5V左右。另外如果用鑷子碰晶體另外一個(gè)腳，這個(gè)電壓有明顯變化，證明是起振了的.

   小竅門：就是弄一節(jié)1.5V的電池接在晶振的兩端把晶振放到耳邊仔細(xì)的聽，當(dāng)聽到噠噠的聲音那就說明它起振了，就是好的嘛！